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湘科STD-A介電常數(shù)測試儀主要測試各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的介電常數(shù)。廣泛應用于大專院校、科研院所對無機非金屬新材料性能的應用研究。
產(chǎn)品型號：湘科STD-A- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時間：2025-04-23
- 訪 問 量：5221
產(chǎn)品介紹
湘潭湘科STD-A介電常數(shù)測試儀，介質(zhì)損耗測試儀
一、概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精QUE。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準：GB/T 5594.4-2015 電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分：介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測試方法、GB/T 1693-2007 硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法.
二、湘潭湘科STD-A介電常數(shù)測試儀儀器的技術指標
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023；
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
c．標稱誤差
頻率范圍 | 10kHz～10MHz |
固有誤差 | ≤5％±滿度值的2% |
工作誤差 | ≤7％±滿度值的2% |
頻率范圍 | 10MHz～70MHz |
固有誤差 | ≤6％±滿度值的2% |
工作誤差 | ≤8％±滿度值的2% |
2．電感測量范圍：1nH～8.4H
3．電容測量：
直接測量范圍 | 1～520p |
主電容調(diào)節(jié)范圍 | 30～550pF |
準確度 | 100pF以下±1pF； 100pF以上±1% |
注：大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。
4．信號源頻率覆蓋范圍：
頻率范圍 | 10kHz～70MHz |
CH1 | 10～99.9999kHz |
CH2 | 100～999.999kHz |
CH3 | 1～9.99999MHz |
CH4 | 10～70MHz |
頻率指示誤差 | 3×10-5±1個字 |
5．Q合格指示預置功能：預置范圍：5～1000
6．Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．消耗功率：約25W；
